电子天平改进的具体方法

随着技术的进步，实验中结构复杂、操作不便的电光分析天平逐渐被数字式、易操作的数显电子天平所替代。鉴于原有电光分析天平的老化，用数显电子天平替代原有电光分析天平势在必行。为适应这趋势，对现有古埃磁天平法测定物质磁化率的装置进行了改进。以不破坏数显电子天平本身结构为原则。

具体改进的方法：以赛多利斯为例，在数显电子天平（BSA224S，赛多利斯科学仪器（北京）有限公司）的称盘上放置略长于数显电子天平宽度的质量轻、非圆形（圆形易滚动，不稳定）的横梁（如：塑料或有机玻璃等，称为上横梁），在上横梁的两端各刻个凹槽（便于固定上横梁和下横梁）；用另略长于天平宽度的质量轻的制品（如：塑料或有机玻璃等）制成放在数显电子天平底部的下横梁（两端和中间位置各刻个凹槽，便于固定上横梁和样品管）；用两根长度基本相同、两端分别做成圆环的细铜丝或细铁丝或尼龙线等，将上横梁和下横梁固定（确保下横梁悬于数显电子天平底部），下横梁中间凹槽用细线垂下，通过励磁柜上方的圆孔将样品管下端置于磁场的中心。

实验方法除天平的使用方法外，所有其他操作与传统的实验步骤完全相同。数显电子天平的使用方法是：在未加样品管时先[去皮]清零（即去皮键），然后按实验步骤，将样品管吊在细绳下方，分别测量样品管无磁场（m）和有磁场时样品的质量（m），再测量样品管装样后无磁场（m）和有磁场时样品的质量（m）。